2023-07-05 07:01:25
William Song a remporté le prix du meilleur article étudiant au Symposium international de physique de la fiabilité (IRPS) de l’IEEE 2015, qui s’est tenu du 21 au 23 avril à Monterey, en Californie. IRPS est la conférence prééminente pour la recherche opportune sur la physique de la fiabilité des appareils, matériaux, circuits et produits utilisés dans l’industrie électronique. Le prix est basé sur les commentaires post-conférence des participants.
Un doctorat. étudiant à la Georgia Tech School of Electrical and Computer Engineering (ECE), Song a reçu cette distinction pour son article, “Managing Performance-Reliability Tradeoffs in Multicore Processors”, co-écrit avec les professeurs de l’ECE Sudhakar Yalamanchili (qui est le Ph.D. de Song . conseiller) et Saibal Mukhopadhyay.
Un compromis fondamental existe entre les performances du processeur et la fiabilité à vie, et les opérations à haut débit augmentent la puissance et la dissipation thermique, ce qui a un impact négatif sur la fiabilité à vie. En revanche, la fiabilité à vie favorise une faible utilisation pour réduire les contraintes et éviter les pannes.
Un défi majeur pour comprendre ce compromis consiste à relier les caractéristiques de l’application aux comportements de dégradation au niveau de l’appareil. À l’aide d’une microarchitecture de système complet et d’un cadre de simulation physique, l’équipe de recherche a analysé le compromis performance-fiabilité dans un processeur multicœur en introduisant une nouvelle métrique, le produit débit-durée de vie (TLP). Les résultats des recherches de l’équipe ont produit de nouvelles techniques pour gérer efficacement les compromis entre la fiabilité à vie et les performances.
Le travail de Song a été soutenu par la Semiconductor Research Corporation (SRC) par le biais d’une bourse d’études supérieures de la SRC.
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